3. 사용시 장치이상 발견시 장비 담당 학생에게 연락.
4. 바탕화면 자료 폴더에 분석 프로그램 설치파일과 해당 분석 매뉴얼 pdf 존재함으로 copy해 가도됨.
5 AFM tip은 랩별 별도 구비해서 가져와서 사용.(추천하는 AFM tip)
A. Topology (non-contact) : NCHR
B. DCEFM/CAFM (contact) : NSC36-Cr/Au, NSC36-Ti/Pt , PPP-CONTSCPt
C. EFM/KPFM (non-contact) : NSC14-Cr/Au, PPP-NCSTAu
D. MFM : PPP-MFMR
.
.
주요사양
1. XY scan range: 5x5 𝜇𝑚 ~ 100x100 𝜇𝑚
2. Mode : Contact, Non-contact
3. Measurement :
- Topology
- Lateral Force Microscopy (LFM)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
- Conductive-AFM (CAFM)
- Kelvin probe microscopy (KPFM)
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
.
장비 담당 학생
최민석 010-3262-7792 lovenmin@kaist.ac.kr
유승선 010-4255-5095 seungsun99@kaist.ac.kr
미래융합소자동 1층 측정실 AFM1. 자율사용자 교육은 장비 담당 학생에게 연락하며 Topology 측정에만 해당.3. 사용시 장치이상 발견시 장비 담당 학생에게 연락.4. 바탕화면 자료 폴더에 분석 프로그램 설치파일과 해당 분석 매뉴얼 pdf 존재함으로 copy해 가도됨.5 AFM tip은 랩별 별도 구비해서 가져와서 사용.(추천하는 AFM tip)A. Topology (non-contact) : NCHRB. DCEFM/CAFM (contact) : NSC36-Cr/Au, NSC36-Ti/Pt , PPP-CONTSCPtC. EFM/KPFM (non-contact) : NSC14-Cr/Au, PPP-NCSTAuD. MFM : PPP-MFMR..주요사양1. XY scan range: 5x5 𝜇𝑚 ~ 100x100 𝜇𝑚2. Mode : Contact, Non-contact3. Measurement :- Topology- Lateral Force Microscopy (LFM)- Electrostatic Force Microscopy (EFM)- Conductive-AFM (CAFM)- Kelvin probe microscopy (KPFM)- Magnetic Force Microscopy (MFM).장비 담당 학생최민석 010-3262-7792 lovenmin@kaist.ac.kr유승선 010-4255-5095 seungsun99@kaist.ac.kr